国家标准《集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。主要起草单位中国电子科技集团公司第五十八研究所、神州龙芯智能科技有限公司。主要起草人袁世伟 、高娜燕 、肖汉武 、帅喆 、黄海林 、肖隆腾 、何慧颖 。

基础信息

  • 标准号:GB/T 44775-2024

  • 标准类别:基础

  • 发布日期:2024-10-26

  • 实施日期:2025-05-01

  • 部分代替标准:暂无

  • 全部代替标准:暂无

  • 中国标准分类号:L55

  • 国际标准分类号:31电子学31.200集成电路、微电子学

  • 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会

  • 执行单位:全国集成电路标准化技术委员会

  • 主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

暂无

起草单位

中国电子科技集团公司第五十八研究所

神州龙芯智能科技有限公司

起草人

袁世伟

高娜燕

黄海林

肖隆腾

肖汉武

帅喆

何慧颖

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