国家标准《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。主要起草单位苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司。主要起草人郭清华 、朱建荣 、姚建林 、袁亚仙 、方丹 、姜江 、席广成 、卢荻 、王震 。

基础信息

  • 标准号:GB/T 44075-2024

  • 标准类别:方法

  • 发布日期:2024-05-28

  • 实施日期:2024-12-01

  • 部分代替标准:暂无

  • 全部代替标准:暂无

  • 中国标准分类号:A42

  • 国际标准分类号:17计量学和测量、物理现象17.040长度和角度测量17.040.20表面特征

  • 归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会

  • 执行单位:暂无

  • 主管部门:全国纳米技术标准化技术委员会

采标情况

暂无

起草单位

苏州纳微科技有限公司

苏州大学

中国检验检疫科学研究院

苏州市计量测试院

中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所

江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司

起草人

郭清华

朱建荣

方丹

姜江

王震

姚建林

袁亚仙

席广成

卢荻

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