发布日期：2024-03-15
实施日期：2024-07-01
状态：现行
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。主要起草人裴选 、赵海龙 、彭浩 、尹丽晶 。
基础信息
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-35:2006。
采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人
裴选
赵海龙
彭浩
尹丽晶
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